需要雙向彎扭的IC卡動(dòng)態(tài)扭曲試驗(yàn)機(jī)的就來(lái)衡翼了解一下吧

2025/04/08 10:27:32

IC卡動(dòng)態(tài)扭曲試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，銀行卡、交通卡、工控設(shè)備存儲(chǔ)卡、門(mén)禁卡、社?？ǖ却艞l/芯片復(fù)合卡的等卡的動(dòng)態(tài)彎扭壽命驗(yàn)證?的可靠性測(cè)試? 。

IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)優(yōu)勢(shì)：設(shè)計(jì)按標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行雙向彎扭性能測(cè)試。

C卡動(dòng)態(tài)扭曲試驗(yàn)機(jī)是通過(guò)機(jī)械結(jié)構(gòu)對(duì)IC卡施加?長(zhǎng)邊彎曲（±20mm位移）?和?短邊彎曲（±10mm位移）?，同時(shí)疊加?雙向扭轉(zhuǎn)（±15°角度，30°）?，模擬卡片在錢(qián)包擠壓、頻繁彎折等場(chǎng)景下的動(dòng)態(tài)應(yīng)力環(huán)境?：在日常使用中會(huì)經(jīng)歷反復(fù)彎曲、扭轉(zhuǎn)等機(jī)械應(yīng)力，可能導(dǎo)致芯片斷裂、觸點(diǎn)損壞或卡體分層。支持?1~9999次循環(huán)測(cè)試?，檢測(cè)卡體疲勞壽命、芯片/磁條耐久性及卡基材料抗形變能力?，該試驗(yàn)機(jī)專門(mén)用于模擬IC卡在真實(shí)使用環(huán)境中的動(dòng)態(tài)彎曲+雙向扭轉(zhuǎn)疲勞，評(píng)估其機(jī)械耐久性和可靠性。